фотометрии и эллипсометрии; услуги по разработке новых оптических методов диагностики то



Предложение >> Разработка эффективных оптических методов контроля геометрических параметров и оптических характеристик наноразмерных слоев, многослойных структур и метаматериалов, используемых в опто- и наноэлектронике

Программное обеспечение расчета электродинамических характеристик градиентных тонкопленочных структур на основании экспериментальных данных волноводной спектроскопии, фотометрии и эллипсометрии.