электроника



Предложение >> Разработка эффективных оптических методов контроля геометрических параметров и оптических характеристик наноразмерных слоев, многослойных структур и метаматериалов, используемых в опто- и наноэлектронике

Программное обеспечение расчета электродинамических характеристик градиентных тонкопленочных структур на основании экспериментальных данных волноводной спектроскопии, фотометрии и эллипсометрии.


Предложение >> Усилительная ячейка для системы стохастического охлаждения пучков в коллайдере NICA

_усилитель.jpg
Ячейка предназначена для усиления по мощности широкополосного измерительного сигнала в канале «pick-up - kicker» коллайдера NICA, при соблюдении требований по равномерности амплитудно-частотной и линейности фазочастотной характеристики коэффициента передачи.


Предложение >> Двухканальный промышленный PX-метр

-П-215Д.jpg
Преобразователь используется в составе анализаторов жидкости потенциометрических для непрерывных измерений в технологических водных растворах и пульпах, а также в системах автоматического контроля и регулирования параметров технологических процессов различных отраслей промышленности.


Предложение >> Система паводкового мониторинга открытых водоёмов

 паводкового маниторинга.jpg
Система позволяет дистанционно контролировать уровень воды в открытом водоёме (река, озеро, т.д.), на основе автономных телеуправляемых датчиков уровня и их синтеза с компьютерным центром контроля и управления для раннего прогнозирования наводнений, предварительного оповещения населения и обеспечения экологической безопасности.


Запрос >> Анализ ультрачистых материалов

Требуется разработка приборов и методик анализа с пределом обнаружения примесей (Al, Cu, Pb, K, Na, Ca, Fe и др.) в жидких химикатах (неорганические кислоты, аммиак водный, перекись водорода и др.) и в ультрачистой деионизованной воде на уровне 0,1 – 1 ppb


Запрос >> Разработать отечественный однокомпонентный компаунд-герметик для герметизации плат печатных в корпусах приборов

Компаунд-герметик обеспечивает отсутствие повреждений радиоэлементов (отрыв SMD радиоэлементов от контактных площадок в процессе эксплуатации приборов).