Предложение - Способ определения квантового выхода ионов металла в светочувствительной системе полупроводник-металл

Автор: Костко Владимир Семенович
Contacts:
Костко Владимир Семенович
Брестский государственный университет имени А.С.Пушкина
Предназначен для определения квантового выхода частиц металла в светочувствительной системе полупроводник-металл.

European Technologies Transfer Network classifier (IRC)
Classifier of American Commercial Center of Technology Transfer (yet2.com)
UNO Industrial Development Network classifier
Type Products/Services
Categories
Product type
Current stage of development
Copyright progress
Available forms of cooperation
Service support
Regions prefered for cooperation

Аннотация предложения: 

Предназначен для определения квантового выхода частиц металла в светочувствительной системе полупроводник-металл.

Ключевые слова: 

Ионы металлов, полупроводник, квантовый выход, сопротивление.

Описание предложения: 

Способ заключается в последовательном нанесении термическим вакуумным напылением через трафарет на диэлектрическую подложку слоя металла в виде полоски-змейки толщиной 200 нм и более, слоя полупроводника. Происходит также экспонирование ультрафиолетовым или видимым светом, измерение световой энергии, поглощенной системой, определение изменения сопротивления металлического слоя под действием облучения, обусловленного диффузией ионов металла в полупроводник.

Технические и экономические преимущества продукции: 

•высокая точность измерений;
•простота измерения сопротивления;
•оперативная обработка результатов;
•экономия временных и энергетических затрат.

Точные сведения о правовой охране объектов интеллектуальной собственности: 

Патент № 14091 РБ

Область применения продукции: 

Фотолитография, оптотехника фотокадов и систем полупроводник-металл.